Microscopio di forza atomica FM-Nanoview Op-AFM-Fornitore globale

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Microscopio di forza atomica FM-Nanoview Op-AFM

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Dettagli del prodotto

◆ Metallo otticoMicroscopioPotente progettazione integrata con il microscopio a forza atomica

◆ Simultaneamente dotato di funzioni di imaging per microscopio ottico e microscopio a forza atomica, entrambi possono lavorare contemporaneamente senza influenzarsi

◆ Possibilità di misurazione ottica 2D e di misurazione 3D con microscopio a forza atomica

◆ Testa di rilevamento laser e banco di scansione del campione integrati, struttura molto stabile e resistente alle interferenze
◆ Posizionamento di precisione della sonda, regolazione semplice dell'allineamento della macchia laser
◆ Un campione azionato a un solo asse si avvicina automaticamente verticalmente alla sonda, rendendo la punta dell'ago verticale alla scansione del campione
◆ Modalità di inserimento intelligente per la rilevazione automatica della ceramica a pressione controllata dal motore, per proteggere le sonde e i campioni

◆ Sistema di posizionamento ottico ultra-alto per il posizionamento preciso della sonda e dell'area di scansione del campione
◆ Editor utente integrato per la correzione non lineare dello scanner con una precisione superiore alla nanocaratterizzazione e alla misurazione98%

Parametri tecnici

Modalità di lavoro	Modalità contatto, modalità tocco	Occhiali ottici	10X
Modalità di selezione	Frizione/forza laterale, amplitudine/fase, forza magnetica/elettricità statica	Modalità di illuminazione	Sistema di illuminazione LED Kohler
Curva dello spettro di forza	Curva di forza F-Z, curva RMS-Z	Focalizzazione ottica	Mettere a fuoco manualmente
Gamma di scansione XY	50 x 50um, opzionale 20 x 20um, 100 x 100um	telecamera	Sensore CMOS da 5 megapixel
Scala di scansione Z	5um, opzionale 2.5um, 10um	Display	Display a schermo piatto da 10,1 pollici con funzione di misurazione dell'immagine
Risoluzione di scansione	0.2nm orizzontale, 0.05nm longitudinale	Velocità di scansione	0.6Hz~30Hz
Dimensioni del campione	Φ≤68mm，H≤20mm	Angolo di scansione	0~360°
Viaggio del campione	25×25mm	Ambiente operativo	Sistemi operativi Windows XP/7/8/10
Obiettivi ottici	5X/10X/20X/50X obiettivo multicolore a campo piatto	Interfaccia di comunicazione	USB2.0/3.0

Casi di applicazione

GaN衬底扫描范围3µm×3µm.png 单晶硅金字塔.png 扫描范围30µm×30µm.png

GaNSosfondo/Scala di scansione3µm×3µmPiramide di silicio monocristallino/Scala di scansione30µm×30µm

扫描范围16µm×16µm.png

Micron raster/Scala di scansione30µm×30µmMoTe/Scala di scansione16µm×16µm

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